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        XRD衍射光譜與XRF熒光發射譜的區別

        發布時間:2019-06-03 09:59:58         點擊:6930

        XRDx射線衍射光譜,(Xray diffraction analysis)是用于測定晶體的結構的,而XRFx射線熒光發射譜,(Xray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的,一般測定原子序數小于Na的元素,定量測定的濃度范圍是常量、微量、痕量。

         光譜

        光譜

        X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射,主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數目的粒子(原子、離子或分子)所產生的相干散射將會發生光的干涉作用,從而使得散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量粒子散射波的疊加,互相干涉而產生最大強度的光束稱為X射線的衍射線。

        應用已知波長的X射線來測量θ角,從而計算出晶面間距d,這是用于X射線結構分析;另一個是應用已知d的晶體來測量θ角,從而計算出特征X射線的波長,進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。

        入射X射線與原子的核外電子發生非彈性碰撞時,一部分能量轉移給電子,使它脫離原子成為反沖電子,而散射光子的能量和運動方向則發生變化。

        XRD原理是以X射線的相干散射為基礎,以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶體理論、倒易點陣厄瓦爾德圖解為主要原理的;XRF原理則是以莫斯萊定律(1/λ)1/2=k(Z-S)k,S是與線性有關的常數。因此,得出不同元素具有不同的X射線(即特征線)為基礎對元素定性、定量分析的。

        總結,XRF熒光發射光譜XRD衍射光譜的是兩種不同的分析方式,分析的領域也不同。

         

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